2015年1月7日下午2:00，由微纳研究与制造中心举办的原子力显微镜（AFM）技术交流会在特种实验楼9楼会议室举行。本次交流会应中心广大用户对AFM技术的需求举办，邀请到Bruker公司高级应用工程师陈苇刚博士向中心用户介绍AFM新兴技术应用及PFM相关前沿技术。会后陈苇刚博士还就中心现有的AFM设备进行了PFM模式使用演示和样品测试指导，从理论和实践应用上与用户展开深入交流。
会上中心工艺工程师彭金兰首先介绍了微纳研究与制造中心的AFM设备基本信息及目前主要功能应用情况，接下来陈苇刚博士就目前AFM新兴技术应用及相关功能模块的配套作用进行了简要介绍，并通过应用实例对目前用户关心的压电响应模式（PFM）技术在压电、铁电材料等畴结构诱导反转、成像领域内的应用优势及相关前沿技术进行了深入分析和介绍。
随后，陈苇刚博士同用户进行了技术交流。会上用户就PFM连用技术大应用模块配置要求、PFM模式测试校准方法以及样品畴结构方向、扫描方向等对数据处理的影响等方面进行了提问和讨论。
由于技术讨论过于热烈，原定于当日下午进行的洁净室内现场PFM模式演示推迟至8日上午进行。陈苇刚博士对Bi系层状钙钛矿单品薄膜的PFM成像进行了演示，并对其数据的后续处理给出了专业指导。