微纳中心举办AFM IR及s-SNOM技术报告
2016年4月8日下午2:30，由微纳中心举办的AFM IR及s-SNOM技术交流在特种实验楼905会议室举行。本次技术交流中心邀请到ANASYS Instruments近场光学显微镜的主要研究负责人、拥有多项s-SNOM专利技术的杨红华博士向我校感兴趣的用户介绍纳米尺度红外光谱采集及散射式近场光学成像技术的发展及最新应用。
杨博士首先介绍了AFM IR这项当前唯一能够提供纳米尺度、无需建模便可获取真实的红外吸收光谱的方法，该方法采用红外脉冲激光照射样品导致样品发生热膨胀，从而激发AFM微悬臂的共振，其振幅正比于材料的吸收常数，结合激励波函数即可得到AFM红外吸收光谱，即为AFM针尖下方样品纳米尺度的化学“指纹特性”。该项技术可用于揭示关键纳米结构的化学成分，如：单根蛋白纤维二相结构、细胞内化合物组成以及高分子与复合材料界面信息的表征。
然后杨博士介绍了近场光学显微镜技术s-SNOM的最新应用。s-SNOM是一种纳米尺度光与物质相互作用的探针技术，它拥有强大的材料复杂光学特性成像和光学现象成像技术，具有纳米尺度空间分辨率。杨博士介绍了s-SNOM技术在石墨烯等离激元、纳米天线以及生命科学中的独立应用，同时也分享了将AFM IR和s-SNOM技术相结合后其在纳米尺度热物性分析（NanoTA）及机械力谱和成像方面的最新应用，扩展了s-SNOM在软质材料如聚合物、有机物、生命材料等的应用。