主要功能：
手动找点，通过对待测膜层的上下界面间反
射光谱的分析，可以测量出结果。
它可以通过C-mount连接附件，与显微镜连
接使用，从而让用户清晰的看到样品和测量位置。
当测量需要在待测样品表面的某些微笑限定
区域进行时，又或者是其他应用要求光斑小至
1um时，可使用先前足部校准显微镜物镜再测
量，可获得更精准的厚度和光学参数值。
主要用于半导体制造、生物医学原件、微电
子方面、液晶显示器等区域。
技术指标：
测量厚度范围： 4nm~100um
测量n/k值的最小厚度： 50nm
波长范围： 190-1700nm
准确度： 大于0.2%或者1nm
精度： 0.02nm