关于中心举办芯片失效分析讲座的通知

Author:系统管理员Date:2015-07-16Views:1

聚焦离子束系统已成为现代集成电路工艺线上不可缺少的设备,为深入了解聚焦离子束加工技术在电路诊断及失效分析方面的应用,中心特邀请相关专家于7月18日展开相关讲座,欢迎感兴趣用户积极参与。

时间:7月18日(周六)下午13:30——17:30

      7月18日(周六)晚上 18:30——21:30

地点:西区特种实验楼裙楼905会议室

 

 微纳研究与制造中心

2015年7月16日